プローブ
PROBE
近年において道具は、便利なツールから自分の身体の一部の様に進化しています。それを実現するために必要不可欠な物が、多種多様なセンサー類です。例えば、高精度な電子コンパス、ホールIC、MR・MIセンサー等各種センサー類などが挙げられます。それらの検査においては測定環境に干渉しない、低磁化特性(磁性を帯び難い性質)のコンタクトプローブ及び、検査治具が求められます。また、非磁性だけでなく挟ピッチに対応できるプローブの需要が高まっています。
弊社では、より高度なご要望にお応えするため、独自に選定した材料への部品加工を行い、国内トップクラスの低磁化特性コンタクトプローブを実現しました。
非磁性化特性を保持し、かつ無鉛はんだバンプや、錫めっき(Sn)端子などへの接触性も優れます。
スプリングプローブの利点を損なわず、自由な配置が可能です
最小径Φ90μm、最小端子間(ピッチ)150μm
全長は最短3.25㎜(端子ピッチ300μm時)までの細物プローブをご提供できます。
カタログ掲載品のなかに、ご希望の形状がありましたら、非磁性仕様に変更することが可能です。(製作にはお時間をいただきます、ご了承ください)
その他、非磁性プローブだけでなく、その他の部材にも配慮した半導体検査向け非磁性製品も製作をしております。